SJ 20282-1993《半导体集成电路 JT54LS02、JT54LS27和JT54LS266型LS-TTL或非门详细规范》

SJ 20282-1993《半导体集成电路  JT54LS02、JT54LS27和JT54LS266型LS-TTL或非门详细规范》基本信息

标准号：SJ 20282-1993

中文名称：《半导体集成电路  JT54LS02、JT54LS27和JT54LS266型LS-TTL或非门详细规范》

发布日期：1993-05-11    

实施日期：1993-07-01

发布部门：中华人民共和国电子工业部    

归口单位：中国电子技术标准化研究所    

起草单位：中国电子技术标准化研究所和国营八七八厂

起草人：王静、孙人杰    

中国标准分类号：E01技术管理

SJ 20282-1993《半导体集成电路  JT54LS02、JT54LS27和JT54LS266型LS-TTL或非门详细规范》介绍

SJ 20282-1993《半导体集成电路  JT54LS02、JT54LS27和JT54LS266型LS-TTL或非门详细规范》是中华人民共和国电子工业部于1993年5月11日发布的一项标准，自1993年7月1日起正式实施。

一、标准适用范围

SJ 20282-1993标准适用于JT54LS02、JT54LS27和JT54LS266型LS-TTL或非门半导体集成电路的设计、生产和检验。这些集成电路广泛应用于数字逻辑电路、计算机、通讯设备等领域，具有较高的技术含量和应用价值。

二、技术要求

1、性能要求

标准对JT54LS02、JT54LS27和JT54LS266型LS-TTL或非门的性能提出了具体要求，包括电源电压范围、工作温度范围、输入电压范围、输出电压范围、输入电流、输出电流、传输延迟时间、功耗等。这些性能指标是衡量集成电路性能的重要依据，对于保证集成电路的可靠性和稳定性具有重要意义。

2、质量要求

标准对集成电路的质量提出了严格要求，包括外观缺陷、内部缺陷、电性能缺陷等。要求生产企业严格按照标准进行生产和检验，确保产品质量符合要求。

三、检验方法

SJ 20282-1993标准对集成电路的检验方法进行了详细规定，包括外观检验、电性能测试、环境适应性测试等。这些检验方法为生产企业提供了检验集成电路质量的依据，有助于提高产品质量和可靠性。

1、外观检验

外观检验主要检查集成电路的外观缺陷，如裂纹、划伤、变形等。外观缺陷会影响集成电路的性能和可靠性，因此生产企业需要严格控制外观质量。

2、电性能测试

电性能测试包括输入电压测试、输出电压测试、输入电流测试、输出电流测试、传输延迟时间测试等。这些测试项目能够全面评估集成电路的电性能，确保其满足设计要求。

3、环境适应性测试

环境适应性测试主要评估集成电路在不同环境条件下的性能，如温度、湿度、振动等。这些测试有助于了解集成电路在实际应用中的性能表现，为产品设计和应用提供参考。

四、包装、运输和储存

SJ 20282-1993标准对集成电路的包装、运输和储存提出了具体要求。合理的包装和储存条件能够保证集成电路的质量和性能，延长其使用寿命。

1、包装要求

包装材料需要具有良好的保护性能，防止集成电路在运输和储存过程中受到损坏。包装上应标明产品的型号、规格、生产日期等信息，便于用户识别和使用。

2、运输要求

运输过程中需要采取必要的防震、防摔措施，避免集成电路受到外力损伤。应遵循一定的运输规范，确保运输过程的安全和高效。

3、储存要求

储存环境应保持干燥、阴凉、通风，避免集成电路受潮、受热或受到其他不利因素的影响。储存时应按照产品型号、规格进行分类存放，便于管理和使用。

SJ 20282-1993《半导体集成电路  JT54LS02、JT54LS27和JT54LS266型LS-TTL或非门详细规范》作为一项重要的技术标准，对于指导集成电路的设计、生产和应用具有重要意义。