




“金属镀覆层厚度测量方法”的标准号是:SJ 20129-1992
SJ 20129-1992《金属镀覆层厚度测量方法》由中国电子工业总公司于1992-11-19发布,并于1993-05-01实施。
该标准的起草单位为机械电子工业部第二研究所;起草人是周心才、陈鹏、张仁土。
“金属镀覆层厚度测量方法”介绍
金属镀覆层厚度的测量是一项重要的质量控制过程,尤其在电子、汽车和航空航天行业。常用的测量方法包括破坏性技术和非破坏性技术两大类。破坏性技术主要指的是通过物理切割或去除镀层来直接测量其厚度,比如金相法和微米刻度尺法。这些方法虽然可以提供精确的测量结果,但会损坏样品,因此不适合生产过程中的在线检测。
另一方面,非破坏性技术则允许在不损伤样品的情况下进行测量,因而更适合用于生产线上的快速检测。这类技术包括但不限于磁感应法、电涡流法和β射线反向散射法。磁感应法适用于铁磁性基体上非铁磁性镀层的厚度测量,而电涡流法则常用于非导电基体上非铁金属镀层的检测。β射线反向散射法则主要用于测量薄膜材料的厚度,特别适用于薄镀层的精确测定。非破坏性测量方法由于其无损特性和高效率,被广泛应用于工业领域,特别是在自动化生产线中实现对镀覆层厚度的实时监控和质量管控。
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