SJ 20184-1992《半导体分立器件 ＣＳ３８２１、３８２２、３８２３型场效应晶体管详细规范》

SJ 20184-1992《半导体分立器件  ＣＳ３８２１、３８２２、３８２３型场效应晶体管详细规范》基本信息

标准号：SJ 20184-1992

中文名称：《半导体分立器件  ＣＳ３８２１、３８２２、３８２３型场效应晶体管详细规范》

发布日期：1992-11-19

实施日期：1993-05-01

发布部门：中国电子工业总公司

提出单位：中国电子工业总公司科技质量局

归口单位：中国电子技术标准化研究所

起草单位：中国电子技术标准化研究所和国营七四六厂

起草人：王长富、张宗国、吴志龙、刘美英

中国标准分类号：D01技术管理

SJ 20184-1992《半导体分立器件  ＣＳ３８２１、３８２２、３８２３型场效应晶体管详细规范》介绍

中国电子工业总公司于1992年11月19日发布了《半导体分立器件 CＳ３８２１、３８２２、３８２３型场效应晶体管详细规范》（以下简称“本标准”），并于1993年5月1日开始实施。

一、标准概述

本标准规定了CS3821、CS3822、CS3823型场效应晶体管的技术要求、测试方法、检验规则、标志、包装、运输和储存等方面的内容。这些晶体管主要用于音频放大器、功率放大器、调制解调器等电子设备中。

二、技术要求

1、外观质量

本标准对晶体管的外观质量提出了具体要求，包括无裂纹、无缺损、无氧化等。

2、电性能参数

本标准规定了晶体管的电性能参数，如最大功耗、最大电流、最大电压等，确保晶体管在正常工作条件下的性能。

3、温度特性

本标准对晶体管在不同温度下的性能进行了规定，适应不同环境条件下的使用。

三、测试方法

本标准详细规定了晶体管的测试方法，包括外观检查、电性能测试、温度特性测试等，确保晶体管的性能符合标准要求。

1、外观检查

外观检查主要包括对晶体管的外观缺陷、尺寸偏差等进行检查。

2、电性能测试

电性能测试包括对晶体管的最大功耗、最大电流、最大电压等参数的测试。

3、温度特性测试

温度特性测试主要是在不同温度条件下对晶体管的性能进行测试，评估其在不同环境下的适应性。

四、检验规则

1、抽样方法

抽样方法主要包括随机抽样和批次抽样两种方式。

2、检验项目

检验项目包括外观检查、电性能测试、温度特性测试等。

3、判定规则

判定规则主要包括合格判定和不合格判定两种，确保晶体管的质量。

五、标志、包装、运输和储存

1、标志

晶体管上应有清晰的型号、规格、生产日期等标志。

2、包装

晶体管的包装应符合防潮、防尘、防震等要求。

3、运输

晶体管在运输过程中应避免剧烈振动和碰撞。

4、储存

晶体管应储存在干燥、阴凉、通风的环境中，避免高温和潮湿。